Panametrics 35DL超聲波測厚儀，奧林巴斯35DL測厚儀

Panametrics 35DL超聲波測厚儀
Panametrics 35DL超聲波測厚儀在大多數(shù)應(yīng)用中都可應(yīng)用35型和35DL型
35型和35DL型超聲波測厚儀使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。

美國泛美超聲波測厚儀系列的特性

所有型號的標準配置均包含聲速和減縮率測量。
• 可測厚度范圍寬：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取決于儀器和材料。
• 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。
• 自動調(diào)用功能可調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置。
• 手持式，僅重0.24公斤（8.5盎司）。
• zui小/zui大模式
• 高-低報警
• 英制和公制顯示（英寸或毫米）
• 多種語言用戶界面
• 長效電池

Panametrics 35DL超聲波測厚儀應(yīng)用

• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸

利用減縮率，可測量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。

Panametrics 35DL超聲波測厚儀減縮率測量

所有儀器型號的標準配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實測厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化。縮減率計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應(yīng)用是對為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進行測量。

可直接顯示聲速數(shù)值的聲速測量模式

Panametrics 35DL超聲波測厚儀材料聲速測量
所有Panametrics 35型儀器均具有測量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關(guān)系的應(yīng)用中，這個標準功能非常有用。典型應(yīng)用包括監(jiān)測金屬鑄件的球化程度，以及監(jiān)測復(fù)合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個數(shù)字卡尺，用于自動傳輸測量厚度值。

Panametrics 35DL超聲波測厚儀自動調(diào)用功能可簡化測量操作
自動調(diào)用功能可使厚度測量簡化。在選擇了任何一種所存的探頭時，35型儀器都可調(diào)用相關(guān)內(nèi)置探頭的所有參數(shù)。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀存儲的標準設(shè)置標準設(shè)置包括大多數(shù)常用的探頭。
Panametrics 35DL超聲波測厚儀存儲的自定義設(shè)置在標準設(shè)置不能滿足特殊的應(yīng)用需求時，這些測厚儀可以創(chuàng)建、存儲和調(diào)用多達20個自定義設(shè)置（35型和35HP型可調(diào)用10個自定義設(shè)置）

Panametrics 35DL超聲波測厚儀配合M208探頭應(yīng)用

在這種基本應(yīng)用中不可使用測微計。然而，可以使用配有M208探頭的35型儀器，在不損壞玻璃的情況下，進行校準精度達0.001毫米（0.0001英寸）的厚度測量。

超薄鋼板（0.10毫米或0.004英寸）的厚度和波形。

渡越時間測量范圍：0.0 µs～109.5 µs
渡越時間分辨率：固定在000.01 µs。
測量更新速率：4、8、16或zui大頻率值（16～20 Hz，因應(yīng)用和測量模式不同而不同）。
探頭頻率范圍：2.25 MHz～30 MHz（35型和35DL型）
0.5 MHz～5.0 MHz（35HP型和35DL-HP型）
zui小/zui大模式：顯示當前厚度、zui小厚度或zui大厚度（視設(shè)置而定）。
顯示保持/空白：顯示上一個讀數(shù)后，屏幕顯示空白或者持續(xù)顯示這個讀數(shù)。
報警模式：可編程高/低報警設(shè)定點，帶有視聽報警指示器。

差分模式：顯示實際測量值和參考值之間的厚度差。
縮減率模式：顯示厚度數(shù)值及實測厚度與參考厚度的百分比差值。
自動調(diào)用功能：自動為各種默認的和自定義的探頭設(shè)置調(diào)節(jié)內(nèi)部參數(shù)。

Panametrics 35DL超聲波測厚儀標準附件
手腕帶、3節(jié)AA電池、試塊、探頭線纜、耦合劑、便攜箱、指導(dǎo)手冊、兩年有限保修。